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JSM-IT200掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號，經視頻放大后輸入到顯像管柵極，調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，

JCM7000掃描透射電子顯微鏡 ，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，涉及行業：地質、冶金、材料、農業、石油、化工、制藥、食

JSM-IT500掃描電子顯微鏡，是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。二次電子信號被探測器收集轉換成電訊號，經視頻放大后輸入到顯像管柵極，調制與入射電子束同步掃描的顯像管亮度，得到反映試樣表面形貌的二次電子像。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、醫療器械，保健品等多種樣品。

JCM7000進口掃描電鏡是用聚焦電子束在試樣表面逐點掃描成像，成像信號可以是二次電子、背散射電子或吸收電子。用來測定樣品微觀形貌結構，可測樣品：土壤、水、金屬、巖礦、煤炭、油料、塑料、陶瓷、植物、保健品等多種樣品，涉及行業：地質、冶金、材料、農業、石油、化工、制藥等。

基于元素分布的成像模式 Unity BEX探測器:掃描電鏡中革命性的全新成像技術 Unity系統是BEX BackscatteredElectron X-Ray)成像探測器，它將背散射散射電子成像和X射線成像集于一體。當您檢索樣品時，BEX信號可流暢地提供包含有元素信息的彩色圖像。這種新的分析技術有效提高您科學研究、品控質檢的效率，相比傳統成像技術，BEX提供了樣品中更為可靠及完整的信息。

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